LNP系列高低溫探針臺(tái)

簡(jiǎn)要描述：LNP系列高低溫探針臺(tái)為小尺寸樣品測(cè)量電特性提供高精度可控測(cè)量環(huán)境實(shí)現(xiàn)精準(zhǔn)可靠的測(cè)試與測(cè)量分析

產(chǎn)品型號(hào)：LNP-3
廠商性質(zhì)：代理商
更新時(shí)間：2024-05-31
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探針臺(tái)

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LNP系列高低溫探針臺(tái)為小尺寸樣品測(cè)量電特性提供高精度可控測(cè)量環(huán)境。

應(yīng)用方向:

探針臺(tái)可實(shí)現(xiàn)精準(zhǔn)可靠的測(cè)試與測(cè)量分析，幫助精準(zhǔn)測(cè)量

和分析判斷晶圓器件的性能，包括提供材料/器件的IV/CV特

性測(cè)試、LD/LED/PD的光強(qiáng)/波長(zhǎng)測(cè)試，射頻特性器件失效分

析，芯片內(nèi)部線路/電極/PAD測(cè)試等技術(shù)解決方案

LNP系列高低溫探針臺(tái)

探針臺(tái)是一種測(cè)試設(shè)備，用于測(cè)試電子元器件、電路板或系統(tǒng)的性能和功能。探針臺(tái)通常包括一個(gè)平臺(tái)，上面裝有用于連接和測(cè)試待測(cè)試物品的探針。通過(guò)探針臺(tái)，可以快速、準(zhǔn)確地檢測(cè)出待測(cè)試物品的各種參數(shù)和功能，幫助提高生產(chǎn)效率和產(chǎn)品質(zhì)量。在電子制造和測(cè)試領(lǐng)域，探針臺(tái)被廣泛應(yīng)用。

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