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簡要描述:品牌:希臘ThetaMetrisis名詞:膜厚儀 膜厚儀、測厚儀、干涉儀、厚度測量儀干涉儀是利用干涉原理測量光程之差從而測定有關(guān)物理量的光學(xué)儀器。兩束相干光間光程差的任何變化會非常靈敏地導(dǎo)致干涉條紋的移動(dòng),而某一束相干光的光程變化是由它所通過的幾何路程或介質(zhì)折射率的變化引起,所以通過干涉條紋的移動(dòng)變化可測量幾何長度或折射率的微小改變量,從而測得與此有關(guān)的其他物理量。
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便攜式膜厚儀主要由以下系統(tǒng)組成: Α白熾-LED混合集成式光源系統(tǒng),通過內(nèi)嵌式微處理器控制,使用壽命超過20000小時(shí)。 小型光譜儀,光譜范圍370nm –1050nm,分辨精度可達(dá)3648像素, 16位級 A/D 分辨精度;配有USB通訊接口; Β) FR-Monitor膜厚測試軟件系統(tǒng), 可精確計(jì)算如下參數(shù): 1)單一或堆積膜層的厚度; 2)靜態(tài)或動(dòng)態(tài)模式下,單一膜層的折射率;本軟件包含了類型豐富的材料折射率數(shù)據(jù)庫,可以有效地協(xié)助用戶進(jìn)行線下或者在線測試分析。本系統(tǒng)可支持吸收率,透射率和反射率的測量,還提供任何堆積膜層的理論性反射光譜,一次使用授權(quán),即可安裝在任何其他電腦上作膜厚測試后的結(jié)果分析使用。 C) 參考樣片: a) 經(jīng)校準(zhǔn)過的反射標(biāo)準(zhǔn)硅片; b) 經(jīng)校準(zhǔn)過的帶有SiO2/Si 特征區(qū)域的樣片; c) 經(jīng)校準(zhǔn)過的帶有Si3N4/SiO2/Si特征區(qū)域的樣片; D) 反射探針臺和樣片夾具 可處理大的樣品尺寸達(dá)200mm, 包含不規(guī)則的尺寸等; 手動(dòng)調(diào)節(jié)可測量高度可達(dá)50mm; 可針對更大尺寸訂制樣片夾具; Ε) 反射率測量的光學(xué)探針 內(nèi)嵌系統(tǒng)6組透射光探針200μm, 1組反射光探針200μm; F) 附件 FR-portable透射率測量套件;
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