久久99久久,91久久人澡人人添人人爽爱播网,人妻视频偷拍,开心五月丁香婷婷

咨詢熱線

18971121198

當(dāng)前位置:首頁  >  技術(shù)文章  >  MC方案| 白光反射光譜法(WLRS)測量薄膜和超薄膜厚度

MC方案| 白光反射光譜法(WLRS)測量薄膜和超薄膜厚度

更新時(shí)間:2019-05-31      點(diǎn)擊次數(shù):1973

光學(xué)膜厚儀 膜厚儀、測厚儀、干涉儀、厚度測量儀、 Film Thickness Gauges【利用材料的折射率來計(jì)算的,非接觸式的膜厚測試儀】

FR的工具基于白光反射光譜(Reports),準(zhǔn)確同步的厚度測量及薄膜的折射率一個(gè)廣泛的多樣化的應(yīng)用范圍廣泛的光電特性的工具和整體解決方案,如:

半導(dǎo)體、有機(jī)電子、聚合物、涂料和涂料、光伏、生物傳感、化學(xué)傳感……  


                                             


                                                       FR-pRo系列

            

     

 

 

 

邁可諾技術(shù)有限公司
  • 聯(lián)系人:葉盛
  • 地址:洪山區(qū)珞獅南路147號未來城A棟
  • 郵箱:sales@mycroinc.com
  • 傳真:
關(guān)注我們

歡迎您關(guān)注我們的微信公眾號了解更多信息

掃一掃
關(guān)注我們
版權(quán)所有©2024邁可諾技術(shù)有限公司All Rights Reserved    備案號:    sitemap.xml    總訪問量:511824
管理登陸    技術(shù)支持:化工儀器網(wǎng)