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MC方案|利用白光反射光譜(WLRS)膜厚儀硅膜表征

更新時(shí)間:2019-05-23      點(diǎn)擊次數(shù):1858

 

光學(xué)膜厚儀 膜厚儀、測厚儀、干涉儀、厚度測量儀

FR的工具基于白光反射光譜(Reports),準(zhǔn)確同步的厚度測量及薄膜的折射率

一個(gè)廣泛的多樣化的應(yīng)用范圍廣泛的光電特性的工具和整體解決方案,如:

半導(dǎo)體、有機(jī)電子、聚合物、涂料和涂料、光伏、生物傳感、化學(xué)傳感……

                              

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